• 首页
  • 本馆介绍
  • 公告通知
  • 最新文献
  • 馆藏检索
  • 电子资源
  • 读者导购
  • 参考咨询
  • CALIS
  • 我的图书馆
  • 登录
  • 详细信息显示
  • 放入我的书架
  • 预约/预借图书
  • 作者相关作品
  • 分类相关作品
  • 丛书相关作品
  • 出版社相关作品

书目信息

  • 表格格式
  • 工作单格式
  • 卡片格式
题名:
电路分析基础--考点分析及效果测试
    
 
作者: ;丛书编委会 编
分册:  
出版信息: 哈尔滨   哈尔滨工程大学出版社  2003.01
页数: 180页
开本: 26cm
丛书名: 新世纪闯关丛书
单 册:
中图分类: TM133
科图分类:
主题词: 电路理论
电子资源:
ISBN: 7-81073-279-X
 
 
 
 
 
000 00686nam0 2200217 45
001 0434757105
005 2004051009391707
010    @a7-81073-279-X@dCNY 14.00
100    @a20040510d2003 km y0chiy0120 ea
101 0  @achi
102    @aCN@b230000
200 1  @a电路分析基础--考点分析及效果测试@ADian Lu Fen Xi Ji Chu--Kao Dian Fen Xi Ji Xiao Guo Ce Shi@f丛书编委会编@FCong Shu Bian Wei Hui Bian
210    @a哈尔滨@c哈尔滨工程大学出版社@d2003.01
215    @a180页@d26cm
225 2  @a新世纪闯关丛书
410  0 @12001 @a新世纪闯关丛书
606 0  @a电路理论
690    @aTM133@v4
711  0 @a丛书编委会@ACong Shu Bian Wei Hui@4编
801  0 @aCN@bPFT@c20040510
905    @dTM133@eC959
    
    电路分析基础--考点分析及效果测试/丛书编委会编.-哈尔滨:哈尔滨工程大学出版社,2003.01
    180页;26cm.-(新世纪闯关丛书)
    
    
    ISBN 7-81073-279-X:CNY 14.00
    
●
相关链接 在E读中查询图书 在当当中查询图书 在豆瓣中查询图书


正题名:电路分析基础--考点分析及效果测试     索取号:TM133/C959         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 397694   203976947   自科二线404/404自科库 18排5列5层/ [索取号:TM133/C959] 在馆    
2 397695   203976956   自科库301/301自科库 9排3列1层/ [索取号:TM133/C959] 在馆    
3 397696   203976965   自科库301/301自科库 9排3列1层/ [索取号:TM133/C959] 在馆    
河南城建学院图书馆 欢迎您!
大连网信软件有限公司© 版权所有