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@a半导体集成电路的可靠性及评价方法@Aban dao ti ji cheng dian lu de ke kao xing ji ping jia fang fa@f章晓文, 恩云飞编著
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@a北京@c电子工业出版社@d2015.10
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@aXV, 394页@c图@d24cm
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@a可靠性技术丛书@Ake kao xing ji shu cong shu
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@a本书共11章, 以硅集成电路为中心, 重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。
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905
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@a河南城建学院图书馆@dTN43@eZ271@f2
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| 半导体集成电路的可靠性及评价方法/章晓文, 恩云飞编著.-北京：电子工业出版社，2015.10 |
| XV, 394页：图；24cm.-(可靠性技术丛书) |
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| ISBN 978-7-121-27160-1：CNY88.00 |
| 本书共11章, 以硅集成电路为中心, 重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。 |
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正题名：半导体集成电路的可靠性及评价方法
索取号：TN43/Z271
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1258422
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212584229
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自科库301/301自科库 27排4列3层/
[索取号:TN43/Z271]
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在馆
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2
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1258423
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212584238
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自科库301/301自科库 27排4列3层/
[索取号:TN43/Z271]
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在馆
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