书目信息 |
| 题名： |
半导体集成电路的可靠性及评价方法
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| 作者： | 章晓文 ， 恩云飞 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2015.10 |
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| 页数： | XV, 394页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN43 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 半导体集成电路--ban dao ti ji cheng dian lu--可靠性--评价 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-27160-1 | |
| 000 | 01063nam 2200253 450 | |
| 001 | CAL 0120151687831 | |
| 010 | @a978-7-121-27160-1@dCNY88.00 | |
| 100 | @a20160615d2015 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak a 000yy | |
| 200 | 1 | @a半导体集成电路的可靠性及评价方法@Aban dao ti ji cheng dian lu de ke kao xing ji ping jia fang fa@f章晓文, 恩云飞编著 |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2015.10 | |
| 215 | @aXV, 394页@c图@d24cm | |
| 225 | 2 | @a可靠性技术丛书@Ake kao xing ji shu cong shu |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书共11章, 以硅集成电路为中心, 重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a可靠性技术丛书 |
| 606 | 0 | @a半导体集成电路@Aban dao ti ji cheng dian lu@x可靠性@x评价 |
| 690 | @aTN43@v5 | |
| 701 | 0 | @a章晓文@Azhang xiao wen@4编著 |
| 701 | 0 | @a恩云飞@Aen yun fei@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@c20160615 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN43@eZ271@f2 | |
| 半导体集成电路的可靠性及评价方法/章晓文, 恩云飞编著.-北京：电子工业出版社，2015.10 |
| XV, 394页：图；24cm.-(可靠性技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-27160-1：CNY88.00 |
| 本书共11章, 以硅集成电路为中心, 重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。 |
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正题名：半导体集成电路的可靠性及评价方法
索取号：TN43/Z271
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1258422 | 212584229 | 自科库301/301自科库 20排3列5层/ [索取号:TN43/Z271] | 在馆 | |
| 2 | 1258423 | 212584238 | 自科库301/301自科库 20排3列5层/ [索取号:TN43/Z271] | 在馆 |