书目信息 |
| 题名： |
FPGA软件测试与评价技术
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| 作者： | ；中国电子信息产业发展研究院 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 人民邮电出版社 2017.02 |
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| 页数： | 382页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 智能制造测试与评价技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TP332.1 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 可编程序逻辑器件--ke bian cheng xu luo ji qi jian--软件开发--程序测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-115-44863-7 | |
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| 330 | @a本书主要介绍了业内主流FPGA的结构及特点, 基于开发流程, 介绍了各种测试工具、第三方仿真工具, 主要内容包括FPGA开发流程, FPGA软件测试标准、模型和方法, FPGA测试过程中要使用的工具, FPGA软件测试实例分析, FPGA软件测试过程与管理。 | |
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| FPGA软件测试与评价技术= Testing and evaluation technology for FPGA/中国电子信息产业发展研究院编著.-北京：人民邮电出版社，2017.02 |
| 382页：图；24cm.-(智能制造测试与评价技术丛书) |
| ISBN 978-7-115-44863-7：CNY99.00 |
| 本书主要介绍了业内主流FPGA的结构及特点, 基于开发流程, 介绍了各种测试工具、第三方仿真工具, 主要内容包括FPGA开发流程, FPGA软件测试标准、模型和方法, FPGA测试过程中要使用的工具, FPGA软件测试实例分析, FPGA软件测试过程与管理。 |
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正题名：FPGA软件测试与评价技术
索取号：TP332.1/Z557
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| 1 | 1312085 | 213120852 | 自科库301/301自科库 54排6列4层/ [索取号:TP332.1/Z557] | 在馆 | |
| 2 | 1312086 | 213120861 | 自科库301/301自科库 61排3列3层/ [索取号:TP332.1/Z557] | 在馆 |