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@a材料X射线分析技术@9cai liao X she xian fen xi ji shu@f朱和国[等]编著
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@a北京@c科学出版社@d2023
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@a292页@c图,照片@d26cm
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@a工业和信息化部“十四五”规划教材
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@a工业和信息化部“十四五”规划教材
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@a编著者还有:曾海波、兰司、尤泽升
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@a本书介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中,结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等;形貌分析技术即三维X射线显微成像分析;成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。
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@a朱和国@9zhu he guo@4编著
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@dO721@eZ841@f1@sO721/Z841@S@Z
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| 材料X射线分析技术/朱和国[等]编著.-北京：科学出版社，2023 |
| 292页：图,照片；26cm.-(工业和信息化部“十四五”规划教材) |
| 工业和信息化部“十四五”规划教材 |
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| ISBN 978-7-03-075930-6：CNY79.00 |
| 本书介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中,结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等;形貌分析技术即三维X射线显微成像分析;成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。 |
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正题名：材料X射线分析技术
索取号：O721/Z841
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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21618563
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216185633
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自科库401/401自科库 66排4列2层/
[索取号:O721/Z841]
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在馆
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