书目信息 |
| 题名： |
材料X射线分析技术
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| 作者： | 朱和国 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2023 |
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| 页数： | 292页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 工业和信息化部“十四五”规划教材 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | O721 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 晶体--X射线衍射分析--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-075930-6 | |
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| 304 | @a编著者还有:曾海波、兰司、尤泽升 | |
| 330 | @a本书介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中,结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等;形貌分析技术即三维X射线显微成像分析;成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。 | |
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| 材料X射线分析技术/朱和国[等]编著.-北京：科学出版社，2023 |
| 292页：图,照片；26cm.-(工业和信息化部“十四五”规划教材) |
| 工业和信息化部“十四五”规划教材 |
| ISBN 978-7-03-075930-6：CNY79.00 |
| 本书介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中,结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等;形貌分析技术即三维X射线显微成像分析;成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。 |
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正题名：材料X射线分析技术
索取号：O721/Z841
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| 1 | 21618563 | 216185633 | 自科库401/ [索取号:O721/Z841] | 在馆 |