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@ a978-7-121-35115-0@ dCNY79.00
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@ a现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应@ Axian dai ji cheng dian lu he dian zi xi tong de di qiu huan jing fu she xiao ying@ d= Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems@ f(日) Eishi H. Ibe著@ F(ri) eishi h. ibezhu@ g毕津顺, 马瑶, 王天琦译@ zeng
210
@ a北京@ c电子工业出版社@ d2019.01
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@ a14, 210页@ c图@ d26cm
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2
@ a国防电子信息技术丛书@ Aguo fang dian zi xin xi ji shu cong shu@ i集成电路辐射效应与加固技术
306
@ a本书简体中文字版专有翻译出版由John Wiley & Sons, Ltd.授予电子工业出版社
314
@ a责任者Eishi H. Ibe规范汉译姓名: 伊部英治
314
@ a伊部英治, 博士, IEEE会士。日本日立公司首席研究员。
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@ a有书目
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@ a本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模, 以量化和减少其影响, 并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。
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@ aTerrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems@ mChinese
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@ a河南城建学院图书馆@ b21424019-20@ dTN4@ eY488@ f2
现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应= Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems/(日) Eishi H. Ibe著/毕津顺, 马瑶, 王天琦译.-北京：电子工业出版社，2019.01 14, 210页：图；26cm.-(国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术) ISBN 978-7-121-35115-0：CNY79.00 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模, 以量化和减少其影响, 并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。 ●
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馆藏地/架位号
状态
备注
1
1424019
214240196
自科库301/301自科库 26排3列2层/
[索取号:TN4/Y488]
在馆
2
1424020
214240203
自科库301/301自科库 26排3列2层/
[索取号:TN4/Y488]
在馆
