书目信息 |
题名: |
材料分析方法
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作者: | 周玉, 主编 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 机械工业出版社 2020.08 |
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页数: | 386页, [6] 页图版 | |
开本: | 26cm | |
丛书名: | 普通高等教育国家级规划教材 | |
单 册: | ||
中图分类: | TB3 | |
科图分类: | ||
主题词: | 工程材料--gong cheng cai liao--分析方法--高等教育--教材 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-111-65350-9 |
000 | 01549nam 2200289 450 | |
001 | CAL 0120203072641 | |
010 | @a978-7-111-65350-9@dCNY65.00 | |
100 | @a20210925d2020 em y0chiy50 ea | |
101 | 0 | @achi |
102 | @aCN@b110000 | |
105 | @aaf a 000yy | |
106 | @ar | |
200 | 1 | @a材料分析方法@Acai liao fen xi fang fa@f主编周玉 |
205 | @a第4版 | |
210 | @a北京@c机械工业出版社@d2020.08 | |
215 | @a386页, [6] 页图版@c图@d26cm | |
225 | 2 | @a普通高等教育国家级规划教材@Apu tong gao deng jiao yu guo jia ji gui hua jiao cai@i材料类 |
314 | @a周玉, 博士, 教授, 中国工程院院士。 | |
320 | @a有书目 (第382-386页) | |
330 | @a本书主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分内容。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括: X射线物理学基础、X射线的衍射基础、多晶物相分析、应力测量与分析、多晶体织构测量、三维X射线显微镜、电子光学及电子显微学基础、透射电子显微镜的结构与工作原理、电子衍射和衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、分析透射电子显微术、扫描电子显微镜和电子探针、电子背散射衍射分析技术和其他显微分析方法以及实验指导。 | |
333 | @a“十三五”国家重点出版物出版规划项目 “十二五”普通高等教育本科国家级规划教材 普通高等教育“十一五”国家级规划教材 普通高等教育“十五”国家级规划教材 面向21世纪课程教材 | |
410 | 0 | @12001 @a普通高等教育国家级规划教材@i材料类 |
606 | 0 | @a工程材料@Agong cheng cai liao@x分析方法@x高等教育@j教材 |
690 | @aTB3@v5 | |
701 | 0 | @a周玉,@Azhou yu@f1955-@4主编 |
801 | 0 | @aCN@c20210925 |
905 | @a河南城建学院图书馆@dTB3@eZ819=4@f2 | |
材料分析方法/主编周玉.-第4版.-北京:机械工业出版社,2020.08 |
386页, [6] 页图版:图;26cm.-(普通高等教育国家级规划教材.材料类) |
使用对象:“十三五”国家重点出版物出版规划项目 “十二五”普通高等教育本科国家级规划教材 普通高等教育“十一五”国家级规划教材 普通高等教育“十五”国家级规划教材 面向21世纪课程教材 |
ISBN 978-7-111-65350-9:CNY65.00 |
本书主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分内容。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括: X射线物理学基础、X射线的衍射基础、多晶物相分析、应力测量与分析、多晶体织构测量、三维X射线显微镜、电子光学及电子显微学基础、透射电子显微镜的结构与工作原理、电子衍射和衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、分析透射电子显微术、扫描电子显微镜和电子探针、电子背散射衍射分析技术和其他显微分析方法以及实验指导。 |
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正题名:材料分析方法
索取号:TB3/Z819=4
 
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