书目信息 |
| 题名： |
现行光学元件检测与国际标准
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| 作者： | 徐德衍 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2011.01 |
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| 页数： | 13,302页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TH740.6 ， TH74 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 光学元件--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-025083-4 | |
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| 304 | @a编著还有：王青、高志山、陈磊、何勇、朱日宏 | |
| 330 | @a本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础等内容。同时介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助资料。 | |
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| 现行光学元件检测与国际标准/徐德衍[等]编著.-北京：科学出版社，2011.01 |
| 13,302页：图；24cm |
| ISBN 978-7-03-025083-4：CNY50.00 |
| 本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础等内容。同时介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助资料。 |
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正题名：现行光学元件检测与国际标准
索取号：TH74/X698
预约/预借
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| 1 | 1207299 | 212072996 | 自科库501/501自科库 135排4列2层/ [索取号:TH74/X698] | 在馆 | |
| 2 | 1207300 | 212073003 | 自科库501/501自科库 135排4列2层/ [索取号:TH74/X698] | 在馆 |