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书名：
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现行光学元件检测与国际标准
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作者：
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徐德衍
编著
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出版信息：
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北京
科学出版社
2011.01
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开本页数：
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24cm
13,302页
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丛书名：
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单 册：
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中图分类：
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TH740.6
，
TH74
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科图分类：
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主题词：
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光学元件--检测
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电子资源：
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ISBN：
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978-7-03-025083-4
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000
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@a现行光学元件检测与国际标准@Axian xing guang xue yuan jian jian ce yu guo ji biao zhun@f徐德衍[等]编著
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@a编著还有：王青、高志山、陈磊、何勇、朱日宏
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@a本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础等内容。同时介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助资料。
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| 现行光学元件检测与国际标准/徐德衍[等]编著.-北京：科学出版社，2011.01 |
| 13,302页：图；24cm |
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| ISBN 978-7-03-025083-4：CNY50.00 |
| 本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础等内容。同时介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助资料。 |
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正题名：现行光学元件检测与国际标准
索取号：TH74/X698
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1207299
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212072996
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自科库501/501自科库 135排4列2层/
[索取号:TH74/X698]
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在馆
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2
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1207300
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212073003
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自科库501/501自科库 135排4列2层/
[索取号:TH74/X698]
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在馆
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