书目信息 |
| 题名： |
X射线衍射测试分析基础教程
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| 作者： | 范小红 ， 徐勇 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 化学工业出版社 2014.01 |
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| 页数： | 173页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | O657.39 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | X射线衍射分析--Xshe xian yan she fen xi--高等教育--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-122-18550-1 | |
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| 330 | @a本书在简单介绍X射线衍射分析原理的基础上, 重点介绍X射线衍射分析法在材料研究方面的应用。主要包括晶体学基础与X射线运动学衍射原理 ; 现代X射线衍射仪测试原理 ; X射线衍射仪测量方法与分析技术 ; X射线衍射谱线分析与应用 ; X射线衍射物相分析 ; 晶体点阵常数精确测定 ; 宏观内应力测定 ; 织构测定与单晶定向 ; Rietveld方法简介。 | |
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| X射线衍射测试分析基础教程/徐勇, 范小红主编.-北京：化学工业出版社，2014.01 |
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| 使用对象：“十二五”普通高等教育本科规划教材 |
| ISBN 978-7-122-18550-1：CNY29.00 |
| 本书在简单介绍X射线衍射分析原理的基础上, 重点介绍X射线衍射分析法在材料研究方面的应用。主要包括晶体学基础与X射线运动学衍射原理 ; 现代X射线衍射仪测试原理 ; X射线衍射仪测量方法与分析技术 ; X射线衍射谱线分析与应用 ; X射线衍射物相分析 ; 晶体点阵常数精确测定 ; 宏观内应力测定 ; 织构测定与单晶定向 ; Rietveld方法简介。 |
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正题名：X射线衍射测试分析基础教程
索取号：O657.39/X832
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