书目信息

书名: 电子器件辐射效应仿真技术 
作者: 丁李利 陈伟 王坦
出版信息: 北京   科学出版社  2025.03
开本页数: 24cm  184页
丛书名: 辐射环境模拟与效应丛书
单 册:
中图分类: TN602
科图分类:
主题词: 电子器件--dian zi qi jian--辐射效应--仿真
电子资源:
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    电子器件辐射效应仿真技术/丁李利, 陈伟, 王坦著.-北京:科学出版社,2025.03
    184页:图;24cm.-(辐射环境模拟与效应丛书)
    
    
    ISBN 978-7-03-080501-0:CNY128.00
    本书主要介绍总剂量效应仿真技术、单粒子效应仿真技术、位移损伤仿真技术、瞬时剂量率效应仿真技术、辐射效应仿真软件等内容, 给出粒子输运仿真、器件级仿真、电路级仿真等不同层级仿真手段在辐射效应研究中的应用案例。
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正题名:电子器件辐射效应仿真技术     索取号:TN602/D540         预约/预借

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