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000
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01271nam0 2200253 450
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001
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CAL 0120227458742
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010
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@a978-7-122-41269-0@b精装@dCNY168.00
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100
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@a20220906d2022 em y0chiy50 ea
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101
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0
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@achi
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102
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@aCN@b110000
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@aak a 000yy
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106
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@ar
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@a颗粒表征的光学技术及应用@Ake li biao zheng de guang xue ji shu ji ying yong@d= Optical technology and applications of particle characterization@f许人良著@zeng
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@a北京@c化学工业出版社@d2022.08
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@a412页@c图@d24cm
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@a许人良, 1972年中学毕业后即进入颗粒分析测试行业。1982年毕业于复旦大学, 之后前往美国留学, 获得硕士、博士与工商管理硕士学位。
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@a有书目
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@a本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。
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@aOptical technology and applications of particle characterization@zeng
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606
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0
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@a颗粒@Ake li@x测量@x研究
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690
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@aO572.21@v5
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701
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0
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@a许人良@Axu ren liang@4著
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801
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0
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@aCN@c20220906
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905
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@a河南城建学院图书馆@dO572.21@eX880@f1
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| 颗粒表征的光学技术及应用= Optical technology and applications of particle characterization/许人良著.-北京：化学工业出版社，2022.08 |
| 412页：图；24cm |
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| ISBN 978-7-122-41269-0(精装)：CNY168.00 |
| 本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。 |
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正题名：颗粒表征的光学技术及应用
索取号：O572.21/X880
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状态
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备注
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1566867
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自科库401/401自科库 89排2列1层/
[索取号:O572.21/X880]
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