书目信息 |
| 题名： |
颗粒表征的光学技术及应用
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| 作者： | 许人良 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 化学工业出版社 2022.08 |
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| 页数： | 412页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | O572.21 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 颗粒--ke li--测量--研究 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-122-41269-0 | |
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| 314 | @a许人良, 1972年中学毕业后即进入颗粒分析测试行业。1982年毕业于复旦大学, 之后前往美国留学, 获得硕士、博士与工商管理硕士学位。 | |
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| 330 | @a本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。 | |
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| 颗粒表征的光学技术及应用= Optical technology and applications of particle characterization/许人良著.-北京：化学工业出版社，2022.08 |
| 412页：图；24cm |
| ISBN 978-7-122-41269-0(精装)：CNY168.00 |
| 本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。 |
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正题名：颗粒表征的光学技术及应用
索取号：O572.21/X880
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