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000
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01280nam 2200313 450
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001
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005
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20200926181352.0
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@a978-7-121-38073-0@dCNY128.00
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@a20200918d2020 em y0chiy50 ea
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@achi@ceng
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@aCN@b110000
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@aa a 000yy
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@ar
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@a现代VLSI器件基础@Axian dai VLSI qi jian ji chu@f(美) 陶元, 甯德雄著@d= Fundamentals of modern VLSI devices@fYuan Taur, Tak H. Ning@g黄如 ... [等] 译@zeng
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@a北京@c电子工业出版社@d2020.06
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@aXXIII, 484页@c图@d26cm
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225
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@a集成电路系列丛书@Aji cheng dian lu xi lie cong shu
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@a据原书第2版译出
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@a有书目 (第460-484页)
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@a本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的 ; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。
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@12001 @a集成电路系列丛书
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@aFundamentals of modern VLSI devices@mChinese
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606
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0
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@aVLSI芯片@AVLSI xin pian@x电路设计
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690
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@aTN470.2@v5
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1
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@a陶元@Atao yuan@g(Taur, Yuan)@4著
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@a甯德雄@Aning de xiong@g(Ning, Tak H.)@4著
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0
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@a黄如@Ahuang ru@4译
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0
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@aCN@c20200719
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905
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@a河南城建学院图书馆@dTN470.2@eT355
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| 现代VLSI器件基础/(美) 陶元, 甯德雄著= Fundamentals of modern VLSI devices/Yuan Taur, Tak H. Ning/黄如 ... [等] 译.-北京：电子工业出版社，2020.06 |
| XXIII, 484页：图；26cm.-(集成电路系列丛书) |
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| ISBN 978-7-121-38073-0：CNY128.00 |
| 本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的 ; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。 |
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正题名：现代VLSI器件基础
索取号：TN470.2/T355
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1490694
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214906949
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自科库301/301自科库 28排2列3层/
[索取号:TN470.2/T355]
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在馆
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