书目信息 |
| 题名： |
现代VLSI器件基础
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| 作者： | 陶元 ， 甯德雄 著 ；黄如 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2020.06 |
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| 页数： | XXIII, 484页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 集成电路系列丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN470.2 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | VLSI芯片--VLSI xin pian--电路设计 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-38073-0 | |
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| 330 | @a本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的 ; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。 | |
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| 现代VLSI器件基础/(美) 陶元, 甯德雄著= Fundamentals of modern VLSI devices/Yuan Taur, Tak H. Ning/黄如 ... [等] 译.-北京：电子工业出版社，2020.06 |
| XXIII, 484页：图；26cm.-(集成电路系列丛书) |
| ISBN 978-7-121-38073-0：CNY128.00 |
| 本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的 ; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。 |
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正题名：现代VLSI器件基础
索取号：TN470.2/T355
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