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@a现代光电测试技术@Axian dai guang dian ce shi ji shu@d= Modern optoelectronic measurement and testing technology@f郝群 ... [等] 编著@zeng
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@a北京理工大学“双一流”建设精品出版工程
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@a题名页题其余责任者: 胡摇, 王姗姗, 张韶辉
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@a本书以光电被测对象为主线, 较全面地介绍了光学量和几何量测量中所涉及的基本理论, 主要测量原理、方法, 主要测量仪器的组成及主要技术特点。在保留经典测量方法的同时, 介绍了当代国内外主流的、代表未来发展方向的光电测量原理和仪器, 如同步移相干涉测试技术等。
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| 现代光电测试技术= Modern optoelectronic measurement and testing technology/郝群 ... [等] 编著.-北京：北京理工大学出版社，2020.04 |
| 171页：图；26cm |
| 北京理工大学“双一流”建设精品出版工程 |
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| ISBN 978-7-5682-8378-6：CNY48.00 |
| 本书以光电被测对象为主线, 较全面地介绍了光学量和几何量测量中所涉及的基本理论, 主要测量原理、方法, 主要测量仪器的组成及主要技术特点。在保留经典测量方法的同时, 介绍了当代国内外主流的、代表未来发展方向的光电测量原理和仪器, 如同步移相干涉测试技术等。 |
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正题名：现代光电测试技术
索取号：TN206/H142
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1497445
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214974456
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自科库301/301自科库 25排3列1层/
[索取号:TN206/H142]
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在馆
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2
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自科库301/301自科库 25排3列1层/
[索取号:TN206/H142]
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在馆
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