书目信息 |
| 题名： |
嵌入式系统可靠性设计
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| 作者： | 李伯成 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2006.01 |
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| 页数： | 252页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 嵌入式系统与单片机系列丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TP360.21 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微型计算机--wei xing ji suan ji--系统可靠性--系统设计 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-121-02123-4 | |
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| 嵌入式系统可靠性设计/李伯成编著.-北京：电子工业出版社，2006.01 |
| 252页：图；26cm.-(嵌入式系统与单片机系列丛书) |
| "十五"国家重点图书出版规划项目 |
| ISBN 7-121-02123-4：CNY28.00 |
| 本书以嵌入式系统设计为主线，在元器件选用、故障检测、电磁兼容设计、软件可靠性设计、总体可靠性设计及可维修性等方面，详细地介绍了有关可靠性设计的问题，以及一系列工程上的可靠性措施。 |
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正题名：嵌入式系统可靠性设计
索取号：TP360.21/L120
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 592349 | 205923492 | 自科库301/301自科库 62排2列4层/ [索取号:TP360.21/L120] | 在馆 | |
| 2 | 592350 | 205923508 | 自科库301/301自科库 88排2列2层/ [索取号:TP360.21/L120] | 在馆 | |
| 3 | 592351 | 205923517 | 自科库301/301自科库 62排2列4层/ [索取号:TP360.21/L120] | 在馆 |