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000
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01065nam 2200265 450
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001
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012006933031
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005
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010
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100
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@a20060627d2006 km y0chiy0120 ea
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101
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0
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@achi
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102
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@aCN@b110000
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105
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@aa a 000yy
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200
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1
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@a嵌入式系统可靠性设计@Aqian ru shi xi tong ke kao xing she ji@f李伯成编著@Fli bo cheng bian zhu
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210
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@a北京@c电子工业出版社@d2006.01
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215
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@a252页@c图@d26cm
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225
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2
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@a嵌入式系统与单片机系列丛书@Aqian ru shi xi tong yu dan pian ji xi lie cong shu
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300
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@a"十五"国家重点图书出版规划项目
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320
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@a有书目。
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330
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@a本书以嵌入式系统设计为主线,在元器件选用、故障检测、电磁兼容设计、软件可靠性设计、总体可靠性设计及可维修性等方面,详细地介绍了有关可靠性设计的问题,以及一系列工程上的可靠性措施。
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410
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0
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@12001 @a嵌入式系统与单片机系列丛书
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606
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0
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@a微型计算机@Awei xing ji suan ji@x系统可靠性@x系统设计
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690
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@aTP360.21@v4
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701
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0
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@a李伯成@Ali bo cheng@4编著
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0
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@aCN@bQSSK@c20060920
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905
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@a10447@dTP360.21@eL120
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| 嵌入式系统可靠性设计/李伯成编著.-北京:电子工业出版社,2006.01 |
| 252页:图;26cm.-(嵌入式系统与单片机系列丛书) |
| "十五"国家重点图书出版规划项目 |
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| ISBN 7-121-02123-4:CNY28.00 |
| 本书以嵌入式系统设计为主线,在元器件选用、故障检测、电磁兼容设计、软件可靠性设计、总体可靠性设计及可维修性等方面,详细地介绍了有关可靠性设计的问题,以及一系列工程上的可靠性措施。 |
| ● |
正题名:嵌入式系统可靠性设计
索取号:TP360.21/L120
 
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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592349
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205923492
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自科库301/301自科库 62排2列4层/
[索取号:TP360.21/L120]
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在馆
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2
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592350
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205923508
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自科库301/301自科库 88排2列2层/
[索取号:TP360.21/L120]
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在馆
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3
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592351
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205923517
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自科库301/301自科库 62排2列4层/
[索取号:TP360.21/L120]
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在馆
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