书目信息 |
| 题名: |
CMOS digital integrated circuits
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| 作者: | 康松默 , Leblebici, , Kim, 著 | |
| 分册: | ||
| 出版信息: | 北京 电子工业出版社 2015.01 |
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| 页数: | 24, 714页, 8页图版 | |
| 开本: | 24cm | |
| 丛书名: | 国外电子与通信教材系列 | |
| 单 册: | ||
| 中图分类: | TN432 | |
| 科图分类: | ||
| 主题词: | 互补MOS集成电路--hu bu MOS ji cheng dian lu--电路分析--教材--英文 , 互补MOS集成电路--hu bu MOS ji cheng dian lu--电路设计--教材--英文 | |
| 电子资源: | ||
| ISBN: | 978-7-121-24804-7 | |
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| 200 | 1 | @aCMOS digital integrated circuits@eanalysis and design@d= CMOS数字集成电路@e分析与设计@f(美) Sung-Mo Kang, (美) Yusuf Leblebici, (韩) Chulwoo Kim著@zchi |
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| 306 | @a经麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版社公司和电子工业出版社授权出版 | |
| 320 | @a有书目 (第685-690页) 和索引 | |
| 330 | @a全书详细讲述了CMOS数字集成电路的相关内容, 为反映纳米级别CMOS技术的广泛应用和技术的发展。全书共15章。第1-8章详细讨论MOS晶体管的相关特性和工作原理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理 ; 第9-13章主要介绍应用于先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路、先进的半导体存储电路、低功耗CMOS逻辑电路、数字运算和转换电路、芯片的I/O设计 ; 第14、15章分别讨论电路的可制造性设计和可测试性设计这两个重要问题。 | |
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| CMOS digital integrated circuits:analysis and design= CMOS数字集成电路:分析与设计/(美) Sung-Mo Kang, (美) Yusuf Leblebici, (韩) Chulwoo Kim著.-英文版.-北京:电子工业出版社,2015.01 |
| 24, 714页, 8页图版:图;24cm.-(国外电子与通信教材系列) |
| ISBN 978-7-121-24804-7:CNY99.00 |
| 全书详细讲述了CMOS数字集成电路的相关内容, 为反映纳米级别CMOS技术的广泛应用和技术的发展。全书共15章。第1-8章详细讨论MOS晶体管的相关特性和工作原理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理 ; 第9-13章主要介绍应用于先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路、先进的半导体存储电路、低功耗CMOS逻辑电路、数字运算和转换电路、芯片的I/O设计 ; 第14、15章分别讨论电路的可制造性设计和可测试性设计这两个重要问题。 |
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正题名:CMOS digital integrated circuits
索取号:TN432/K274
 
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