书目信息

书名: 集成电路验证 
作者: 沈海华 张锋 乐翔
出版信息: 北京   科学出版社  2019.01
开本页数: 24cm  222页
丛书名: 信息科学技术学术著作丛书
单 册:
中图分类: TN407
科图分类:
主题词: 集成电路--ji cheng dian lu--验证
电子资源:
ISBN: 978-7-03-055370-6
000 01144nam 2200289 450
001 CAL 0120182623175
010    @a978-7-03-055370-6@dCNY98.00
100    @a20181211d2019 em y0chiy50 ea
101 @achi
102    @aCN@b110000
105    @aak a 000yy
106    @ar
200 @a集成电路验证@Aji cheng dian lu yan zheng@f沈海华, 张锋, 乐翔著@Fshen hai hua , zhang feng , le xiang zhu
210    @a北京@c科学出版社@d2019.01
215    @a222页@c图@d24cm
225 @a信息科学技术学术著作丛书@Axin xi ke xue ji shu xue shu zhu zuo cong shu
320    @a有书目 (第220-222页)
330    @a本书从集成电路验证领域存在的问题出发, 详细介绍数字电路和模拟电路验证方法, 主要包括设计验证语言基础、模拟仿真验证、覆盖率检验方法、电路的形式验证、物理验证、SPICE仿真、低功耗设计和验证方法、低功耗验证技术实例、硅后验证等方面。
410  0 @12001 @a信息科学技术学术著作丛书
586    @a
606 @a集成电路@Aji cheng dian lu@x验证
690    @aTN407@v5
701  0 @a沈海华@Ashen hai hua@4著
701  0 @a张锋@Azhang feng@4著
701  0 @a乐翔@Ale xiang@4著
801  0 @aCN@c20181211
905    @a河南城建学院图书馆@dTN407@eS392@f2
    
    集成电路验证/沈海华, 张锋, 乐翔著.-北京:科学出版社,2019.01
    222页:图;24cm.-(信息科学技术学术著作丛书)
    
    
    ISBN 978-7-03-055370-6:CNY98.00
    本书从集成电路验证领域存在的问题出发, 详细介绍数字电路和模拟电路验证方法, 主要包括设计验证语言基础、模拟仿真验证、覆盖率检验方法、电路的形式验证、物理验证、SPICE仿真、低功耗设计和验证方法、低功耗验证技术实例、硅后验证等方面。
相关链接
在五车中查询图书 在当当中查询图书 在豆瓣中查询图书


正题名:集成电路验证     索取号:TN407/S392         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1414812   214148126   自科库301/301自科库 26排4列4层/ [索取号:TN407/S392] 在馆    
2 1414813   214148135   自科库301/301自科库 26排4列4层/ [索取号:TN407/S392] 在馆