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书名：	产品设计的电磁兼容故障排除技术
作者：	安德烈，怀亚特著；崔强译
出版信息：	北京机械工业出版社 2019.04
开本页数：	21cm XV, 254页
丛书名：	国际电气工程先进技术译丛
单册：
中图分类：	TN03
科图分类：
主题词：	电子产品--dian zi chan pin--产品设计--电磁兼容性--故障修复
电子资源：
ISBN：	978-7-111-62047-1

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330		@a本书详细讲述了产品的电磁干扰 (EMI) 故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章, 内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射等。
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产品设计的电磁兼容故障排除技术/(美) 帕特里克·G.安德烈, 肯尼思·D.怀亚特著/崔强译.-北京：机械工业出版社，2019.04

XV, 254页：图；21cm.-(国际电气工程先进技术译丛)

ISBN 978-7-111-62047-1：CNY49.00

本书详细讲述了产品的电磁干扰 (EMI) 故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章, 内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射等。

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