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题名:
产品设计的电磁兼容故障排除技术
    
 
作者: 安德烈 , 怀亚特 著 ;崔强 译
分册:  
出版信息: 北京   机械工业出版社  2019.04
页数: XV, 254页
开本: 21cm
丛书名: 国际电气工程先进技术译丛
单 册:
中图分类: TN03
科图分类:
主题词: 电子产品--dian zi chan pin--产品设计--电磁兼容性--故障修复
电子资源:
ISBN: 978-7-111-62047-1
 
 
 
 
 
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330    @a本书详细讲述了产品的电磁干扰 (EMI) 故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章, 内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射等。
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    产品设计的电磁兼容故障排除技术/(美) 帕特里克·G.安德烈, 肯尼思·D.怀亚特著/崔强译.-北京:机械工业出版社,2019.04
    XV, 254页:图;21cm.-(国际电气工程先进技术译丛)
    
    
    ISBN 978-7-111-62047-1:CNY49.00
    本书详细讲述了产品的电磁干扰 (EMI) 故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章, 内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射等。
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正题名:产品设计的电磁兼容故障排除技术     索取号:TN03/A491         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1416373   214163732   自科库301/301自科库 33排1列1层/ [索取号:TN03/A491] 在馆    
2 1416374   214163741   自科库301/301自科库 18排1列5层/ [索取号:TN03/A491] 在馆    
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