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| 半导体薄膜光谱学/薛晨阳,张文栋等编著.-北京:科学出版社,2008.04 |
| 219页:图;24cm |
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| ISBN 978-7-03-022352-4:CNY42.00 |
| 本书共六章,内容包括:半导体薄膜及其生长方法、电磁辐射理论、光谱学主要仪器、光学表征方法等。 |
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正题名:半导体薄膜光谱学
索取号:TN304.805.5/X944
 
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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1207149
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212071498
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自科库301/301自科库 26排1列1层/
[索取号:TN304.805.5/X944]
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在馆
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2
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自科库301/301自科库 26排1列1层/
[索取号:TN304.805.5/X944]
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在馆
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