书目信息 |
| 题名： |
现代电子系统软错误
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| 作者： | 尼古拉季斯 主编 ；毕津顺 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2016.07 |
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| 页数： | 16, 240页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 国防电子信息技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN103 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子系统--dian zi xi tong--研究 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-29097-8 | |
| 000 | 01486nam 2200289 450 | |
| 001 | 1017414 | |
| 010 | @a978-7-121-29097-8@dCNY59.00 | |
| 098 | @a1017414 | |
| 100 | @a20171025d2016 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 1 | @achi@cfre |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak a 000yy | |
| 200 | 1 | @a现代电子系统软错误@Axian dai dian zi xi tong ruan cuo wu@d= Soft errors in modern electronic systems@f(法) Michael Nicolaidis主编@g韩郑生, 毕津顺译@zeng |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2016.07 | |
| 215 | @a16, 240页@c图@d26cm | |
| 225 | 2 | @a国防电子信息技术丛书@Aguo fang dian zi xin xi ji shu cong shu |
| 314 | @a责任者规范汉译姓: 尼古拉季斯 | |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书系统性阐述了软错误发生的复杂物理过程, 共分10章。第1章介绍软错误研究历史和未来发展趋势。第2章介绍单粒子效应发生机制与分类。第3章介绍JEDEC标准。第4章介绍了门级建模与仿真。第5章介绍了电路级和系统级单粒子效应建模与仿真。第6章介绍了硬件故障注入。第7章介绍了如何采用加速测试与错误率预估技术, 评估验证面向空间或地面环境的集成电路。第8章介绍了电路级软错误抑制技术。第9章介绍了软件级软错误抑制技术。第10章介绍了高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a国防电子信息技术丛书 |
| 510 | 1 | @aSoft errors in modern electronic systems@zeng |
| 606 | 0 | @a电子系统@Adian zi xi tong@x研究 |
| 690 | @aTN103@v5 | |
| 701 | 1 | @a尼古拉季斯@Ani gu la ji si@g(Nicolaidis, Michael)@4主编 |
| 702 | 0 | @a毕津顺@Abi jin shun@4译 |
| 801 | 0 | @aCN@c20171025 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN103@eN443@f2 | |
| 现代电子系统软错误= Soft errors in modern electronic systems/(法) Michael Nicolaidis主编/韩郑生, 毕津顺译.-北京：电子工业出版社，2016.07 |
| 16, 240页：图；26cm.-(国防电子信息技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-29097-8：CNY59.00 |
| 本书系统性阐述了软错误发生的复杂物理过程, 共分10章。第1章介绍软错误研究历史和未来发展趋势。第2章介绍单粒子效应发生机制与分类。第3章介绍JEDEC标准。第4章介绍了门级建模与仿真。第5章介绍了电路级和系统级单粒子效应建模与仿真。第6章介绍了硬件故障注入。第7章介绍了如何采用加速测试与错误率预估技术, 评估验证面向空间或地面环境的集成电路。第8章介绍了电路级软错误抑制技术。第9章介绍了软件级软错误抑制技术。第10章介绍了高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。 |
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正题名：现代电子系统软错误
索取号：TN103/N443
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| 1 | 1347036 | 213470368 | 自科库301/301自科库 18排3列2层/ [索取号:TN103/N443] | 在馆 | |
| 2 | 1347037 | 213470377 | 自科库301/301自科库 18排3列2层/ [索取号:TN103/N443] | 在馆 |