书目信息 |
| 题名： |
片上系统测试设计与优化
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| 作者： | 拉森 著 ；孙仁杰 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2024.01 |
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| 页数： | x, 314页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TP360.21 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微型计算机--wei xing ji suan ji--系统测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-076918-3 | |
| 000 | 012110am0 2200277 450 | |
| 001 | 92571 | |
| 005 | 20250818095908.14 | |
| 010 | @a978-7-03-076918-3@dCNY88.00 | |
| 099 | @aCAL 012023151933 | |
| 100 | @a20240116d2024 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 1 | @achi@cswe |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak a 000yy | |
| 106 | @ar | |
| 200 | 1 | @a片上系统测试设计与优化@Apian shang xi tong ce shi she ji yu you hua@f(瑞典) 埃里克·拉森著@d= Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization@fErik Larsson@g孙仁杰译@zeng |
| 210 | @a北京@c科学出版社@d2024.01 | |
| 215 | @ax, 314页@c图@d26cm | |
| 320 | @a有书目 (第301-314页) | |
| 330 | @a本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。《片上系统测试设计与优化》由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 | |
| 510 | 1 | @aIntroduction to advanced system-on-chip test design and optimization@zeng |
| 606 | 0 | @a微型计算机@Awei xing ji suan ji@x系统测试 |
| 690 | @aTP360.21@v5 | |
| 701 | 1 | @a拉森@Alasen@g(Larsson, Erik)@4著 |
| 702 | 0 | @a孙仁杰@Asun ren jie@4译 |
| 801 | 0 | @aCN@c20250909 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTP360.21@eL009@f1 | |
| 片上系统测试设计与优化/(瑞典) 埃里克·拉森著= Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization/Erik Larsson/孙仁杰译.-北京：科学出版社，2024.01 |
| x, 314页：图；26cm |
| ISBN 978-7-03-076918-3：CNY88.00 |
| 本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。《片上系统测试设计与优化》由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
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正题名：片上系统测试设计与优化
索取号：TP360.21/L009
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