书目信息 |
| 题名： |
片上系统测试设计与优化
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| 作者： | 拉森 著 ；孙仁杰 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2024.01 |
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| 页数： | x, 314页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TP360.21 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微型计算机--wei xing ji suan ji--系统测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-076918-3 | |
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| 片上系统测试设计与优化/(瑞典) 埃里克·拉森著= Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization/Erik Larsson/孙仁杰译.-北京：科学出版社，2024.01 |
| x, 314页：图；26cm |
| ISBN 978-7-03-076918-3：CNY88.00 |
| 本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。《片上系统测试设计与优化》由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
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正题名：片上系统测试设计与优化
索取号：TP360.21/L009
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| 1 | 1626535 | 216265351 | 自科库301/301自科库 62排2列4层/ [索取号:TP360.21/L009] | 在馆 |