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材料的透射电子显微学与衍射学=Transmission electron microscopy and diffractometry of materials/(美)布伦特·福尔兹，(美)詹姆斯·豪著/吴自勤[等]译.-合肥：中国科学技术大学出版社，2017.01 11,57页：图；24cm.-(物理学名家名作译丛) “十三五”国家重点图书出版规划项目.-使用对象：科研人员 ISBN 978-7-312-03749-8：CNY99.00 本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比，这一版所有章节都进行了更新和修订，并增加了与TEM有关的重要的新技术，如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理，以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别，并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。 ●
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馆藏地/架位号
状态
备注
1
1362173
213621730
自科库501/501自科库 12排1列5层/
[索取号:TB302/F694]
在馆
2
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自科库501/501自科库 12排1列5层/
[索取号:TB302/F694]
在馆
