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@aX射线衍射分析技术@AXshe xian yan she fen xi ji shu@f晋勇, 孙小松, 薛屺编著
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@a北京@c国防工业出版社@d2008.7
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@a302页@c图@d26cm
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@a本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。
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@a本书可作为大学材料与工程科学专业本科生、研究生教学用书
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| X射线衍射分析技术/晋勇, 孙小松, 薛屺编著.-北京：国防工业出版社，2008.7 |
| 302页：图；26cm |
| 使用对象：本书可作为大学材料与工程科学专业本科生、研究生教学用书 |
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| ISBN 978-7-118-05778-2：CNY39.00 |
| 本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。 |
| ● |
正题名：X射线衍射分析技术
索取号：O657.39/J854
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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860106
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208601066
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自科库401/401自科库 66排1列1层/
[索取号:O657.39/J854]
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在馆
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2
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208601075
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自科库401/401自科库 66排1列1层/
[索取号:O657.39/J854]
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在馆
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3
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860108
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208601084
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自科库401/401自科库 66排1列1层/
[索取号:O657.39/J854]
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在馆
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