书目信息 |
| 题名： |
X射线衍射分析技术
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| 作者： | 晋勇 ， 孙小松 ， 薛屺 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 国防工业出版社 2008.7 |
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| 页数： | 302页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | O657.39 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | X射线衍射分析--Xshe xian yan she fen xi | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-118-05778-2 | |
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| 330 | @a本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。 | |
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| X射线衍射分析技术/晋勇, 孙小松, 薛屺编著.-北京：国防工业出版社，2008.7 |
| 302页：图；26cm |
| 使用对象：本书可作为大学材料与工程科学专业本科生、研究生教学用书 |
| ISBN 978-7-118-05778-2：CNY39.00 |
| 本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。 |
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正题名：X射线衍射分析技术
索取号：O657.39/J854
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 860106 | 208601066 | 自科库401/401自科库 66排1列1层/ [索取号:O657.39/J854] | 在馆 | |
| 2 | 860107 | 208601075 | 自科库401/401自科库 66排1列1层/ [索取号:O657.39/J854] | 在馆 | |
| 3 | 860108 | 208601084 | 自科库401/401自科库 66排1列1层/ [索取号:O657.39/J854] | 在馆 |