书目信息 |
| 题名： |
系统芯片(SoC)验证方法与技术
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| 作者： | 拉申卡, ， Rashinkar, ， Singh, ， Paterson, ， 信赫, 著 ；丁健 ， 孙海平 译 ；帕特森, 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2005.1 |
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| 页数： | XII,263页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN402 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--ji cheng dian lu--芯片--设计 , 集成电路--ji cheng dian lu , 芯片--xin pian | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-121-00589-1 | |
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| 306 | @a由美国Kluwer Academic Publishers授权出版 | |
| 314 | @a拉申卡[Prakash Rashinkar]，在通信卫星、运载火箭、太空船地面系统、高性能计算机、网络交换、多媒体和无线应用等领域拥有超过15年的嵌入式系统设计和验证工作经验。 | |
| 314 | @a帕特森[Peter Paterson]，在ASIC和计算机系统设计领域拥有超过20年的工作经验,他毕业于苏格兰Robert Gordon大学,获电气工程理学学士学位。 | |
| 314 | @a信赫[Leena Singh]，在多媒体\无线通信\过程控制等应用领域拥有超过9年的ASID设计和验证的工作经验,Leena毕业于印度Chandigarh的Punjab大学,获电气工程理学学士学位。 | |
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| 330 | @a本书详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具，主要内容包括各种不同类型的仿真、软件/硬件协同验证、数字/模拟混合验证、网表静态验证、物理验证、测试平台迁移等验证技术。 | |
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| 系统芯片(SoC)验证方法与技术= System-on-a-chip verification methodology and techniques/(美)[拉申卡]Prakash Rashinkar，(美)[帕特森]Peter Paterson，(美)[信赫]Leena Singh著/孙海平，丁健译 .-北京：电子工业出版社，2005.1 |
| XII,263页；26cm |
| ISBN 7-121-00589-1：CNY29.00 |
| 本书详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具，主要内容包括各种不同类型的仿真、软件/硬件协同验证、数字/模拟混合验证、网表静态验证、物理验证、测试平台迁移等验证技术。 |
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正题名：系统芯片(SoC)验证方法与技术
索取号：TN402/L007
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| 2 | 546232 | 205462328 | 自科库301/301自科库 26排4列1层/ [索取号:TN402/L007] | 在馆 | |
| 3 | 546233 | 205462337 | 自科库301/301自科库 26排4列1层/ [索取号:TN402/L007] | 在馆 |