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书目信息

题名：	数字系统测试和可测性设计
作者：	阿布拉莫维奇, ， Abramovici, ，布鲁尔, ， Breuer, ，弗里德曼, ， Friedman, 著
分册：
出版信息：	北京清华大学出版社 2004.1
页数：	xvii,652页
开本：	26cm
丛书名：	国外大学优秀教材
单册：
中图分类：	TP271-43:H31
科图分类：
主题词：	数字系统--shu zi xi tong--测试--高等学校--教材--英文 , 数字系统--shu zi xi tong--系统设计--高等学校--教材--英文 , 数字系统--shu zi xi tong , 测试--ce shi , 系统设计--xi tong she ji
电子资源：
ISBN：	7-302-07747-9

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数字系统测试和可测性设计= Digital systems testing and testable design/[阿布拉莫维奇]Miron Abramovici，[布鲁尔]Melvin A. Breuer，[弗里德曼]Arthur D. Friedman[著].-影印版，英文版.-北京：清华大学出版社，2004.1

xvii,652页：图；26cm.-(国外大学优秀教材.微电子类系列：影印版)

ISBN 7-302-07747-9：CNY65.00

本书比较系统地介绍了结构测试的理论和方法，可测性设计理论和度量方法，测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法等。

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序号	登录号	条形码	馆藏地/架位号	状态	备注
1	544120	205441208	自科库301/301自科库 37排4列4层/ [索取号:TP271-43:H31/A020]	在馆
2	544121	205441217	自科库301/301自科库 37排4列4层/ [索取号:TP271-43:H31/A020]	在馆
3	544122	205441226	自科二线404/404自科库 14排2列6层/ [索取号:TP271-43:H31/A020]	在馆