书目信息 |
题名: |
微电子引线键合
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作者: | 哈曼 著 ;罗建强 译 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 机械工业出版社 2022 |
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页数: | 15, 320页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | 半导体与集成电路关键技术丛书 | |
单 册: | ||
中图分类: | TN4 | |
科图分类: | ||
主题词: | 微电子技术--wei dian zi ji shu--电子器件--芯片--引线技术--键合工艺 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-111-69709-1 |
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304 | @a译者还有:周文艳、肖庆、高峰、裴洪营、崔苇波等20人 | |
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330 | @a本书总结了过去70年引线键合技术的发展脉络和最新成果,并对未来的发展趋势做出了展望。主要内容包括:超声键合系统与技术、键合引线的冶金学特性、引线键合测试方法、引线键合金属界面反应、键合焊盘镀层及键合可靠性、清洗、引线键合中的力学问题等,最后讨论了先进引线键合技术、铜/低介电常数器件——键合与封装、引线键合工艺建模与仿真。 | |
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微电子引线键合/(美) 乔治·哈曼(George Harman) 著/罗建强等译.-北京:机械工业出版社,2022 |
15, 320页:图;24cm.-(半导体与集成电路关键技术丛书.IC工程师精英课堂) |
机工电子 |
ISBN 978-7-111-69709-1(精装):CNY168.00 |
本书总结了过去70年引线键合技术的发展脉络和最新成果,并对未来的发展趋势做出了展望。主要内容包括:超声键合系统与技术、键合引线的冶金学特性、引线键合测试方法、引线键合金属界面反应、键合焊盘镀层及键合可靠性、清洗、引线键合中的力学问题等,最后讨论了先进引线键合技术、铜/低介电常数器件——键合与封装、引线键合工艺建模与仿真。 |
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正题名:微电子引线键合
索取号:TN4/Q340
 
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