书目信息 |
| 题名： |
电子元器件可靠性设计
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| 作者： | 王蕴辉 ， 于宗光 ， 孙再吉 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2007 |
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| 页数： | 514页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 电子可靠性工程技术实践丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN602 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元件--dian zi yuan jian--可靠性--设计 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-019638-5 | |
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| 电子元器件可靠性设计/王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编.-北京：科学出版社，2007 |
| 514页：图；24cm.-(电子可靠性工程技术实践丛书) |
| ISBN 978-7-03-019638-5：CNY49.90 |
| 本书共分9章, 内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求, 单片集成电路可靠性设计, 混合集成电路可靠性设计等。 |
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| 相关链接 |
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正题名：电子元器件可靠性设计
索取号：TN602/W442
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 666325 | 206663252 | 自科库301/301自科库 21排2列5层/ [索取号:TN602/W442] | 在馆 | |
| 2 | 666326 | 206663261 | 自科二线400A/400A自科库 2排2列2层/ [索取号:TN602/W442] | 在馆 | |
| 3 | 666327 | 206663270 | 自科二线400A/400A自科库 4排3列3层/ [索取号:TN602/W442] | 在馆 |