书目信息 |
| 题名： |
动态测试技术及应用
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| 作者： | 郝晓剑 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2013.02 |
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| 页数： | XI, 249页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 全国高等院校仪器仪表及自动化类“十二五”规划教材 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TB9 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 动态测量--dong tai ce liang--高等学校--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-19594-5 | |
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| 动态测试技术及应用/郝晓剑.-第2版.-北京：电子工业出版社，2013.02 |
| XI, 249页：图；26cm.-(全国高等院校仪器仪表及自动化类“十二五”规划教材) |
| ISBN 978-7-121-19594-5：CNY39.80 |
| 本书共分11章, 主要介绍动态测试技术的作用与意义 ; 测试技术的基础知识 ; 测试系统组成与设计原则 ; 测试系统的基本特性等内容。 |
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| 相关链接 |
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正题名：动态测试技术及应用
索取号：TB9/H143
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 0847747 | 208477478 | 自科库501/501自科库 20排2列4层/ [索取号:TB9/H143] | 在馆 | |
| 2 | 0847748 | 208477487 | 自科库501/501自科库 20排2列4层/ [索取号:TB9/H143] | 在馆 | |
| 3 | 0847749 | 208477496 | 自科库501/501自科库 20排2列4层/ [索取号:TB9/H143] | 在馆 |