书目信息 |
| 题名： |
混合信号集成电路测试与测量
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| 作者： | 伯恩斯 ， 罗伯茨 著 ；冯建华 ， 肖钢等 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2009.3 |
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| 页数： | 15, 531页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 国外电子与通信教材系列 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN450.7 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 混合集成电路--hun he ji cheng dian lu--测试技术--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-08293-1 | |
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| 306 | @a本书中文简体版专有出版权由美国Oxford University Press授权电子工业出版社 | |
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| 330 | @a本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法, 是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践, 结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。本书共分为16章, 内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DFT)、数据分析和测试经济学。 | |
| 333 | @a本书是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的 | |
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| 混合信号集成电路测试与测量= An introduction to mixed-signal IC test and measurement/(美)伯恩斯, 罗伯茨等著/冯建华, 肖钢等译.-北京：电子工业出版社，2009.3 |
| 15, 531页：图；26cm.-(国外电子与通信教材系列) |
| 使用对象：本书是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的 |
| ISBN 978-7-121-08293-1：CNY69.00 |
| 本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法, 是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践, 结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。本书共分为16章, 内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DFT)、数据分析和测试经济学。 |
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正题名：混合信号集成电路测试与测量
索取号：TN450.7/B910
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| 1 | 879234 | 208792341 | 自科库301/301自科库 36排3列4层/ [索取号:TN450.7/B910] | 在馆 | |
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