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@ a混合信号集成电路测试与测量@ Ahun he xin hao ji cheng dian lu ce shi yu ce liang@ d= An introduction to mixed-signal IC test and measurement@ f(美)伯恩斯, 罗伯茨等著@ g冯建华, 肖钢等译@ zeng
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@ a本书中文简体版专有出版权由美国Oxford University Press授权电子工业出版社
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@ a本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法, 是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践, 结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。本书共分为16章, 内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DFT)、数据分析和测试经济学。
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@ a本书是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的
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混合信号集成电路测试与测量= An introduction to mixed-signal IC test and measurement/(美)伯恩斯, 罗伯茨等著/冯建华, 肖钢等译.-北京：电子工业出版社，2009.3 15, 531页：图；26cm.-(国外电子与通信教材系列) 使用对象：本书是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的 ISBN 978-7-121-08293-1：CNY69.00 本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法, 是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践, 结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。本书共分为16章, 内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DFT)、数据分析和测试经济学。 ●
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备注
1
879234
208792341
自科库301/301自科库 28排2列1层/
[索取号:TN450.7/B910]
在馆
2
879235
208792350
自科库301/301自科库 28排2列1层/
[索取号:TN450.7/B910]
在馆
