文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN431.207/L177 | 数字集成电路测试 | 李华伟 … [等] 编著 | 清华大学出版社 | 2024.06 |
| 2 | TN431.207/L290 | 数字集成电路测试优化 | 李晓维 … [等] 著 | 科学出版社 | 2010.06 |
| 3 | TN431.207/Z210 | 数字集成电路测试及可测性设计 | 张晓旭, 张永锋, 山丹编著 | 化学工业出版社 | 2024.11 |
文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN431.207/L177 | 数字集成电路测试 | 李华伟 … [等] 编著 | 清华大学出版社 | 2024.06 |
| 2 | TN431.207/L290 | 数字集成电路测试优化 | 李晓维 … [等] 著 | 科学出版社 | 2010.06 |
| 3 | TN431.207/Z210 | 数字集成电路测试及可测性设计 | 张晓旭, 张永锋, 山丹编著 | 化学工业出版社 | 2024.11 |