文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN470.7/B984 | 超大规模集成电路测试 | (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Ag | 电子工业出版社 | 2005.08 |
| 2 | TN470.7/L079 | 超大规模集成电路测试 | 雷绍充, 邵志标, 梁峰编著 | 电子工业出版社 | 2008 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN470.7/B984 | 超大规模集成电路测试 | (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Ag | 电子工业出版社 | 2005.08 |
| 2 | TN470.7/L079 | 超大规模集成电路测试 | 雷绍充, 邵志标, 梁峰编著 | 电子工业出版社 | 2008 |