文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN43/Z271 | 半导体集成电路的可靠性及评价方法 | 章晓文, 恩云飞编著 | 电子工业出版社 | 2015.10 |
| 2 | TN605/H215 | 电子微组装可靠性设计 | 何小琦, 恩云飞, 周斌编著;编写组成员宋芳 | 电子工业出版社 | 2022.03 |
| 3 | TN606/W382 | 电子元器件检验技术 | 王晓晗, 罗宏伟编著 | 电子工业出版社 | 2019.01 |
| 4 | TN606/W382 | 电子元器件检验技术 | 王晓晗, 罗宏伟编著 | 电子工业出版社 | 2019.02 |
| 5 | TN606/E055 | 电子元器件失效分析技术 | 恩云飞, 来萍, 李少平编著;编写组人员师谦 | 电子工业出版社 | 2015.10 |
| 6 | TN605/L932 | 电子组装工艺可靠性技术与案例研究 | 罗道军, 贺光辉, 邹雅冰著 | 电子工业出版社 | 2015.09 |
| 7 | TB11/G522 | 可靠性工程数学 | 顾瑛编著 | 电子工业出版社 | 2004.8 |
| 8 | TB114.3/W080 | 可靠性管理 | 主编汪修慈 | 电子工业出版社 | 2015.10 |
| 9 | TN6/Y360 | 可靠性物理 | 姚立真编著 | 电子工业出版社 | 2004.8 |
| 10 | TN97/H003 | 可信性工程应用与实践 | (加) 托马斯·范·哈德维尔, 大卫·江著;杨 | 电子工业出版社 | 2021.05 |