文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN430.5/P129 | CMOS芯片结构与制造技术 | 潘桂忠编著 | 电子工业出版社 | 2021.12 |
| 2 | TN303/Y612 | 半导体器件中的辐射效应 | (加) 克日什托夫·印纽斯基编著;刘超铭 … | 电子工业出版社 | 2021.12 |
| 3 | TN402/J820 | 集成电路安全 | 金意儿, 屈钢编著 | 电子工业出版社 | 2021.10 |
文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN430.5/P129 | CMOS芯片结构与制造技术 | 潘桂忠编著 | 电子工业出版社 | 2021.12 |
| 2 | TN303/Y612 | 半导体器件中的辐射效应 | (加) 克日什托夫·印纽斯基编著;刘超铭 … | 电子工业出版社 | 2021.12 |
| 3 | TN402/J820 | 集成电路安全 | 金意儿, 屈钢编著 | 电子工业出版社 | 2021.10 |