文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN7430.2/W705 | ESD揭秘 | (美) Steven H. Voldman著;来萍, 恩云飞, | 机械工业出版社 | 2014.06 |
| 2 | TN79/A113 | 硬件架构的艺术 | (印度) Mohit Arora著;李海东, 来萍, 师谦 | 机械工业出版社 | 2014.03 |
| 3 | TN606/E055 | 电子元器件失效分析技术 | 恩云飞, 来萍, 李少平编著;编写组人员师谦 | 电子工业出版社 | 2015.10 |
文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN7430.2/W705 | ESD揭秘 | (美) Steven H. Voldman著;来萍, 恩云飞, | 机械工业出版社 | 2014.06 |
| 2 | TN79/A113 | 硬件架构的艺术 | (印度) Mohit Arora著;李海东, 来萍, 师谦 | 机械工业出版社 | 2014.03 |
| 3 | TN606/E055 | 电子元器件失效分析技术 | 恩云飞, 来萍, 李少平编著;编写组人员师谦 | 电子工业出版社 | 2015.10 |