文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TP312/Y334 | 数据结构 | 杨智明主编 | 北京理工大学出版社 | 2016.08 |
| 2 | TN407/Y811 | 硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 | 俞洋 … [等] 著 | 哈尔滨工业大学出版社 | 2021.10 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TP312/Y334 | 数据结构 | 杨智明主编 | 北京理工大学出版社 | 2016.08 |
| 2 | TN407/Y811 | 硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 | 俞洋 … [等] 著 | 哈尔滨工业大学出版社 | 2021.10 |