文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN103/N443 | 现代电子系统软错误 | (法) Michael Nicolaidis主编;韩郑生, 毕津 | 电子工业出版社 | 2016.07 |
| 2 | TN4/Y488 | 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应 | (日) Eishi H. Ibe著;毕津顺, 马瑶, 王天琦 | 电子工业出版社 | 2019.01 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN103/N443 | 现代电子系统软错误 | (法) Michael Nicolaidis主编;韩郑生, 毕津 | 电子工业出版社 | 2016.07 |
| 2 | TN4/Y488 | 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应 | (日) Eishi H. Ibe著;毕津顺, 马瑶, 王天琦 | 电子工业出版社 | 2019.01 |