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序号 索取号 正题名 责任者 出版者 出版日期
1 TP311.5/M970   集成测试框架 (美)穆格雷珠(Mugridge,R.),(美)坎宁安(Cun   电子工业出版社   2007  
2 TP311.5/M970   集成测试框架 (美)穆格雷珠(Mugridge,R.),(美)坎宁安(Cun   电子工业出版社   2007  
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