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序号 索取号 正题名 责任者 出版者 出版日期
1 TN305.94/J268   SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 (日) 菅沼克昭编著;何钧, 许恒宇译   机械工业出版社   2022.01  
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