文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN4/H143 | 微电子概论 | 郝跃, 贾新章, 吴玉广编著 | 高等教育出版社 | 2003.12 |
| 2 | TN4/H1431 | 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 | 郝跃,刘红侠著 | 科学出版社 | 2008.03 |
| 3 | TN386/Z777 | 铁电负电容场效应晶体管 | 周久人, 韩根全, 郝跃著 | 人民邮电出版社 | 2025.06 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN4/H143 | 微电子概论 | 郝跃, 贾新章, 吴玉广编著 | 高等教育出版社 | 2003.12 |
| 2 | TN4/H1431 | 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 | 郝跃,刘红侠著 | 科学出版社 | 2008.03 |
| 3 | TN386/Z777 | 铁电负电容场效应晶体管 | 周久人, 韩根全, 郝跃著 | 人民邮电出版社 | 2025.06 |