文献检索列表 |
序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
1 | TN470.7/B984 | 超大规模集成电路测试 | (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Ag | 电子工业出版社 | 2005.08 |
2 | TU-49/A073 | 建造 | (印) 罗玛·阿格拉瓦尔著;张依玫译 | 北京联合出版公司 | 2022.04 |
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序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
1 | TN470.7/B984 | 超大规模集成电路测试 | (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Ag | 电子工业出版社 | 2005.08 |
2 | TU-49/A073 | 建造 | (印) 罗玛·阿格拉瓦尔著;张依玫译 | 北京联合出版公司 | 2022.04 |