文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN431.2/H979 | 数字集成电路分析与设计 | (美) Davia A. Hodges, Horace G. Jackson, | 电子工业出版社 | 2005.09 |
| 2 | TG115.28/W123 | 漏磁检测的缺陷可视化技术 | 王长龙, 陈自力, 马晓琳著 | 国防工业出版社 | 2014.02 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN431.2/H979 | 数字集成电路分析与设计 | (美) Davia A. Hodges, Horace G. Jackson, | 电子工业出版社 | 2005.09 |
| 2 | TG115.28/W123 | 漏磁检测的缺陷可视化技术 | 王长龙, 陈自力, 马晓琳著 | 国防工业出版社 | 2014.02 |