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01785nam 2200337 450
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2442058932
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@a978-7-302-66203-7@dCNY79.00
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@a20240614d2024 em y0chiy0120 ea
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@achi
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@aCN@b110000
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@aak a 000yy
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@ar
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@a数字集成电路测试@Ashu zi ji cheng dian lu ce shi@e理论、方法与实践@f李华伟 ... [等] 编著
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@a北京@c清华大学出版社@d2024.06
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@ax, 258页@c图@d24cm
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@a集成电路科学与技术丛书@Aji cheng dian lu ke xue yu ji shu cong shu
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@a题名页题: 李华伟, 郑武东, 温晓青, 赖李洋, 叶靖等编著
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@a英文并列题名取自封面
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@a李华伟, 中国科学院计算技术研究所研究员, 中国科学院大学教授, 中国计算机学会集成电路设计专委会主任。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试等。郑武东, 西门子旗下Digital Industries Software公司首席科学家, IEEELife Fellow, 在集成电路测试和诊断领域拥有84项美国专利。温晓青, 日本九州工业大学教授, IEEE Fellow。研究方向为集成电路测试及高可靠性设计。
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@a有书目
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@a本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。
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@12001 @a集成电路科学与技术丛书
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@aDigital integrated circuit testing@eprinciples, methodologies and practices@zeng
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@a
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@a数字集成电路@Ashu zi ji cheng dian lu@x测试技术
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@aTN431.207@v5
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@a李华伟@Ali hua wei@4编著
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@a郑武东@Azheng wu dong@4编著
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@a温晓青@Awen xiao qing@4编著
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@aCN@c20240614
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@dTN431.207@eL177@f1@sTN431.207/L177@S@Z
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| 数字集成电路测试：理论、方法与实践/李华伟 ... [等] 编著.-北京：清华大学出版社，2024.06 |
| x, 258页：图；24cm.-(集成电路科学与技术丛书) |
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| ISBN 978-7-302-66203-7：CNY79.00 |
| 本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 |
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正题名：数字集成电路测试
索取号：TN431.207/L177
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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21616677
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216166770
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自科库301/301自科库 28排1列4层/
[索取号:TN431.207/L177]
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在馆
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