书目信息 |
| 题名： |
数字集成电路测试
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| 作者： | 李华伟 ， 郑武东 ， 温晓青 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 清华大学出版社 2024.06 |
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| 页数： | x, 258页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 集成电路科学与技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN431.207 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字集成电路--shu zi ji cheng dian lu--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-302-66203-7 | |
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| 304 | @a题名页题: 李华伟, 郑武东, 温晓青, 赖李洋, 叶靖等编著 | |
| 312 | @a英文并列题名取自封面 | |
| 314 | @a李华伟, 中国科学院计算技术研究所研究员, 中国科学院大学教授, 中国计算机学会集成电路设计专委会主任。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试等。郑武东, 西门子旗下Digital Industries Software公司首席科学家, IEEELife Fellow, 在集成电路测试和诊断领域拥有84项美国专利。温晓青, 日本九州工业大学教授, IEEE Fellow。研究方向为集成电路测试及高可靠性设计。 | |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 | |
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| 数字集成电路测试：理论、方法与实践/李华伟 ... [等] 编著.-北京：清华大学出版社，2024.06 |
| x, 258页：图；24cm.-(集成电路科学与技术丛书) |
| ISBN 978-7-302-66203-7：CNY79.00 |
| 本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 |
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正题名：数字集成电路测试
索取号：TN431.207/L177
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