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@ a数字集成电路测试及可测性设计@ Ashu zi ji cheng dian lu ce shi ji ke ce xing she ji@ d= Digital integrated circuit testing and testability design@ f张晓旭, 张永锋, 山丹编著@ zeng
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@ a张晓旭, 大连东软信息学院教师, 曾任职于松下电器软件开发 (大连) 有限公司, 担任半导体开发部门工程师, 主要负责集成电路设计、验证、测试等工作 ; 2016年9月至今任教于大连东软信息学院, 担任集成电路设计与集成系统专业教师。
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@ a有书目 (第190页)
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@ a本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发, 系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括: 数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试, 以及可测性设计案例及分析, 本书将理论与实践相融合, 深入浅出地进行理论讲解, 并辅以实例解析, 帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通, 实现从理论知识到工程应用的有效过渡。
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数字集成电路测试及可测性设计= Digital integrated circuit testing and testability design/张晓旭, 张永锋, 山丹编著.-北京：化学工业出版社，2024.11 190页：图；26cm.-(“集成电路设计与集成系统”丛书) ISBN 978-7-122-46553-5：CNY79.00 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发, 系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括: 数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试, 以及可测性设计案例及分析, 本书将理论与实践相融合, 深入浅出地进行理论讲解, 并辅以实例解析, 帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通, 实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 ●
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216237686
自科库301/301自科库 28排1列4层/
[索取号:TN431.207/Z210]
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