书目信息 |
| 题名： |
数字集成电路测试及可测性设计
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| 作者： | 张晓旭 ， 张永锋 ， 山丹 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 化学工业出版社 2024.11 |
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| 页数： | 190页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | “集成电路设计与集成系统”丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN431.207 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字集成电路--shu zi ji cheng dian lu--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-122-46553-5 | |
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| 314 | @a张晓旭, 大连东软信息学院教师, 曾任职于松下电器软件开发 (大连) 有限公司, 担任半导体开发部门工程师, 主要负责集成电路设计、验证、测试等工作 ; 2016年9月至今任教于大连东软信息学院, 担任集成电路设计与集成系统专业教师。 | |
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| 330 | @a本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发, 系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括: 数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试, 以及可测性设计案例及分析, 本书将理论与实践相融合, 深入浅出地进行理论讲解, 并辅以实例解析, 帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通, 实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 | |
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| 数字集成电路测试及可测性设计= Digital integrated circuit testing and testability design/张晓旭, 张永锋, 山丹编著.-北京：化学工业出版社，2024.11 |
| 190页：图；26cm.-(“集成电路设计与集成系统”丛书) |
| ISBN 978-7-122-46553-5：CNY79.00 |
| 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发, 系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括: 数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试, 以及可测性设计案例及分析, 本书将理论与实践相融合, 深入浅出地进行理论讲解, 并辅以实例解析, 帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通, 实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 |
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正题名：数字集成电路测试及可测性设计
索取号：TN431.207/Z210
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