书目信息 |
| 题名: |
集成电路系统级封装
|
|
| 作者: | 梁新夫 主编 | |
| 分册: | ||
| 出版信息: | 北京 电子工业出版社 2021.09 |
|
| 页数: | XXIII, 380页 | |
| 开本: | 24cm | |
| 丛书名: | 集成电路系列丛书 | |
| 单 册: | ||
| 中图分类: | TN405.94 | |
| 科图分类: | ||
| 主题词: | 集成电路--ji cheng dian lu--封装工艺 | |
| 电子资源: | ||
| ISBN: | 978-7-121-42129-7 | |
| 000 | 01191nam 2200289 450 | |
| 001 | 2260341911 | |
| 010 | @a978-7-121-42129-7@b精装@dCNY158.00 | |
| 100 | @a20211221d2021 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak a 000yy | |
| 106 | @ar | |
| 200 | 1 | @a集成电路系统级封装@Aji cheng dian lu xi tong ji feng zhuang@f梁新夫主编 |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2021.09 | |
| 215 | @aXXIII, 380页@c图@d24cm | |
| 225 | 2 | @a集成电路系列丛书@Aji cheng dian lu xi lie cong shu@i集成电路封装测试 |
| 300 | @a工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程 | |
| 312 | @a英文题名取自封面 | |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书共9章, 主要内容包括: 系统集成的发展历程, 系统级封装集成的应用, 系统级封装的综合设计, 系统级封装集成基板, 封装集成所用芯片、元器件和材料, 封装集成关键技术及工艺, 系统级封装集成结构, 集成功能测试, 可靠性与失效分析。 | |
| 410 | 0 | @12001 @a集成电路系列丛书@i集成电路封装测试 |
| 510 | 1 | @aSystem-in-package design, processing and applications@zeng |
| 606 | 0 | @a集成电路@Aji cheng dian lu@x封装工艺 |
| 690 | @aTN405.94@v5 | |
| 701 | 0 | @a梁新夫@Aliang xin fu@4主编 |
| 801 | 0 | @aCN@c20220906 |
| 905 | @a河南城建学院图书馆@dTN405.94@eL415 | |
| 集成电路系统级封装/梁新夫主编.-北京:电子工业出版社,2021.09 |
| XXIII, 380页:图;24cm.-(集成电路系列丛书.集成电路封装测试) |
| 工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程 |
| ISBN 978-7-121-42129-7(精装):CNY158.00 |
| 本书共9章, 主要内容包括: 系统集成的发展历程, 系统级封装集成的应用, 系统级封装的综合设计, 系统级封装集成基板, 封装集成所用芯片、元器件和材料, 封装集成关键技术及工艺, 系统级封装集成结构, 集成功能测试, 可靠性与失效分析。 |
| ● |
| 相关链接 |
|
|
|
正题名:集成电路系统级封装
索取号:TN405.94/L415
 
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1572394 | 215723947 | 自科库301/301自科库 26排4列3层/ [索取号:TN405.94/L415] | 在馆 |