书目信息 |
题名: |
数字集成电路测试优化
|
|
作者: | 李晓维 著 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 科学出版社 2010.06 |
|
页数: | 344页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN431.207 | |
科图分类: | ||
主题词: | 数字集成电路--shu zi ji cheng dian lu--测试技术 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-03-027894-4 |
000 | 00945nam0 2200253 450 | |
001 | CAL 012010164827 | |
010 | @a978-7-03-027894-4@dCNY58.00 | |
099 | @aCAL 012010164827 | |
100 | @a20110901d2010 em y0chiy50 ea | |
101 | 0 | @achi |
102 | @aCN@b110000 | |
105 | @aak a 001yy | |
200 | 1 | @a数字集成电路测试优化@AShu Zi Ji Cheng Dian Lu Ce Shi You Hua@e测试压缩、测试功耗优化、测试调度@f李晓维 ... [等] 著 |
210 | @a北京@c科学出版社@d2010.06 | |
215 | @a344页@c图@d24cm | |
300 | @a中国科学院科学出版基金资助出版 | |
320 | @a有书目和索引 | |
330 | @a本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面:测试压缩、测试功耗优化、测试调度。 | |
517 | 1 | @a测试压缩、测试功耗优化、测试调度@ACe Shi Ya Suo 、ce Shi Gong Hao You Hua 、ce Shi Diao Du |
606 | 0 | @a数字集成电路@Ashu zi ji cheng dian lu@x测试技术 |
690 | @aTN431.207@v5 | |
701 | 0 | @a李晓维@ALi Xiao Wei@4著 |
801 | 0 | @aCN@c20110901 |
905 | @dTN431.207@eL290@f3 | |
数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维 ... [等] 著.-北京:科学出版社,2010.06 |
344页:图;24cm |
中国科学院科学出版基金资助出版 |
ISBN 978-7-03-027894-4:CNY58.00 |
本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面:测试压缩、测试功耗优化、测试调度。 |
● |
相关链接 |
正题名:数字集成电路测试优化
索取号:TN431.207/L290
 
预约/预借
序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
1 | 1043627 | 210436278 | 自科库301/301自科库 20排4列5层/ [索取号:TN431.207/L290] | 在馆 | |
2 | 1043628 | 210436287 | 自科库301/301自科库 20排4列5层/ [索取号:TN431.207/L290] | 在馆 | |
3 | 1043629 | 210436296 | 自科库301/301自科库 20排4列5层/ [索取号:TN431.207/L290] | 在馆 |