书目信息 |
| 题名： |
数字集成电路测试优化
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| 作者： | 李晓维 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2010.06 |
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| 页数： | 344页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN431.207 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字集成电路--shu zi ji cheng dian lu--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-027894-4 | |
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| 数字集成电路测试优化：测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维 ... [等] 著.-北京：科学出版社，2010.06 |
| 344页：图；24cm |
| 中国科学院科学出版基金资助出版 |
| ISBN 978-7-03-027894-4：CNY58.00 |
| 本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面:测试压缩、测试功耗优化、测试调度。 |
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正题名：数字集成电路测试优化
索取号：TN431.207/L290
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1043627 | 210436278 | 自科库301/301自科库 36排3列2层/ [索取号:TN431.207/L290] | 在馆 | |
| 2 | 1043628 | 210436287 | 自科库301/301自科库 20排4列5层/ [索取号:TN431.207/L290] | 在馆 | |
| 3 | 1043629 | 210436296 | 自科库301/301自科库 36排3列2层/ [索取号:TN431.207/L290] | 在馆 |