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集成测试框架：用Fit进行敏捷软件测试/(美)穆格雷珠(Mugridge,R.),(美)坎宁安(Cunningham,W.)著/吴兰陟译.-北京：电子工业出版社，2007 355页；23cm ISBN 978-7-121-04094-8：CNY45.00 本书展示了如何通过Fit解释业务规则，利用具体示例予以表达，并将示例组织到测试表格里，将测试驱动贯穿于整个软件开发生命周期中。本书从现有的实践开始，对软件开发的两大方面进行改进，来提高开发人员的适应性及敏捷性。 ●
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序号
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馆藏地/架位号
状态
备注
1
682569
206825694
自科库301/301自科库 42排4列2层/
[索取号:TP311.5/M970]
在馆
2
682570
206825701
自科二线400A/400A自科库 3排3列1层/
[索取号:TP311.5/M970]
在馆
3
682571
206825710
自科库301/301自科库 49排5列5层/
[索取号:TP311.5/M970]
在馆
