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书目信息

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题名:
嵌入式软件测试实用技术
    
 
作者: 蔡建平 编著
分册:  
出版信息: 北京   清华大学出版社  2010.09
页数: 472页
开本: 26cm
丛书名:
单 册:
中图分类: TP311.5
科图分类:
主题词: 软件--ruan jian--测试
电子资源:
ISBN: 978-7-302-23231-5
 
 
 
 
 
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    嵌入式软件测试实用技术/蔡建平编著.-北京:清华大学出版社,2010.09
    472页:图;26cm
    
    
    ISBN 978-7-302-23231-5:CNY68.00
    全书共9章,分为3部分:第一部分是对嵌入式软件开发技术的介绍,涉及嵌入式软件开发所用到技术的一些基本概念和基础知识;第二部分是本书的重点,讲述了嵌入式软件测试的一些基本概念重要技术和经典方法;第三部分是对嵌入式软件测试工具的全面介绍,覆盖了嵌入式软件测试各个方面的实际应用需求,书中的工具选型主要以嵌入式软件测试技术支撑、方法应用和在国内应用有其代表性为出发点,重点介绍了包括IBM Rational、Parasoft、Vector Software、FreeScale、领测科技、北航14系等多家著名公司在内的嵌入式软件测试产品或工具,形成了一整套的嵌入式软件测试解决方案。
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正题名:嵌入式软件测试实用技术     索取号:TP311.5/C030         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1040985   210409850   自科库301/301自科库 42排2列1层/ [索取号:TP311.5/C030] 在馆    
2 1040986   210409869   自科库301/301自科库 47排1列2层/ [索取号:TP311.5/C030] 在馆    
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