书目信息 |
| 题名： |
深入理解软件性能
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| 作者： | 赛茨 著 ；赵利通 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 人民邮电出版社 2024.01 |
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| 页数： | 382页, [12] 页图版 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TP311.5 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 软件工程--ruan jian gong cheng | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-115-61656-2 | |
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| 215 | @a382页, [12] 页图版@c图 (部分彩图)@d24cm | |
| 306 | @a本书中文简体版由Pearson Education, Inc.授权人民邮电出版社出版 | |
| 312 | @a英文题名原文取自封面 | |
| 314 | @a理查德· L. 赛茨 (Richard L. Sites), 美国国家工程院院士。在职业生涯的大部分时间中, 他负责硬件与软件的交接, 特别关注 CPU/软件性能交互。他担任了DEC Alpha处理器的架构师, 发明了处理器的性能计数器。 | |
| 320 | @a有书目 | |
| 330 | @a本书不仅介绍了如何测量CPU、内存、磁盘/SSD、网络的性能, 如何观察、记录、跟踪、汇总性能指标, 还讨论了如何设计和创建性能测试工具KUtrace, 以及如何对观察结果进行推理。 | |
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| 深入理解软件性能：一种动态视角/(美) 理查德· L. 赛茨著/赵利通译.-北京：人民邮电出版社，2024.01 |
| 382页, [12] 页图版：图 (部分彩图)；24cm |
| ISBN 978-7-115-61656-2：CNY129.80 |
| 本书不仅介绍了如何测量CPU、内存、磁盘/SSD、网络的性能, 如何观察、记录、跟踪、汇总性能指标, 还讨论了如何设计和创建性能测试工具KUtrace, 以及如何对观察结果进行推理。 |
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正题名：深入理解软件性能
索取号：TP311.5/S019
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