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书目信息

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题名:
超大规模集成电路测试
    
 
作者: 阿格拉瓦尔, , 布什内尔, 著 ;蒋安平 , 冯建华 , 王新安 译
分册:  
出版信息: 北京   电子工业出版社  2005.08
页数: 16, 511页
开本: 26cm
丛书名: 国外电子与通信教材系列
单 册:
中图分类: TN470.7
科图分类:
主题词: 超大规模集成电路--chao da gui mo ji cheng dian lu--测试--高等学校--教材
电子资源:
ISBN: 7-121-01490-4
 
 
 
 
 
000 01980nam 2200349 450
001 012006133036
005 20061018152649.53
010    @a7-121-01490-4@dCNY58.00
100    @a20060921d2005 km y0chiy0120 ea
101 1  @achi@ceng
102    @aCN@b110000
105    @aa a 000yy
200 1  @a超大规模集成电路测试@Achao da gui mo ji cheng dian lu ce shi@e数字、存储器和混合信号系统@d= Essentials of electronic testing for digital@eMemory & mixed-signal VLSI circuits@f(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著@F(mei)Michael L.Bushnell,Vishwani D.Agrawal zhu@g蒋安平, 冯建华, 王新安译@Gjiang an ping,feng jian hua,wang xin an yi@zeng
210    @a北京@c电子工业出版社@d2005.08
215    @a16, 511页@c图@d26cm
225 2  @a国外电子与通信教材系列@Aguo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie
306    @a本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版
314    @a责任者Bushnell规范汉译姓 : 布什内尔; 编目员自译Agrawal汉译姓 : 阿格拉瓦尔。
320    @a有书目 (第474-511页)。
330    @a本书本三个部分,第一部分是测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、模拟测试等。
410  0 @12001 @a国外电子与通信教材系列
510 1  @aEssentials of electronic testing for digital@eMemory & mixed-signal VLSI circuits@zeng
517 1  @a数字、存储器和混合信号系统@Ashu zi、cun chu qi he hun he xin hao xi tong
606 0  @a超大规模集成电路@Achao da gui mo ji cheng dian lu@x测试@x高等学校@j教材
690    @aTN470.7@v4
701  1 @a阿格拉瓦尔,@Aa ge la wa er,@bV. D.@g(Agrawal, Vishwani D.),@f1943-@4著
701  1 @a布什内尔,@Abu shen nei er,@bM. L.@g(Bushnell, Michael Lee),@f1950-@4著
702  0 @a蒋安平@Ajiang an ping@4译
702  0 @a冯建华@Afeng jian hua@4译
702  0 @a王新安@Awang xin an@4译
801  0 @aCN@bQSSK@c20061018
905    @a10447@dTN470.7@eB984
    
    超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统= Essentials of electronic testing for digital:Memory & mixed-signal VLSI circuits/(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著/蒋安平, 冯建华, 王新安译.-北京:电子工业出版社,2005.08
    16, 511页:图;26cm.-(国外电子与通信教材系列)
    
    
    ISBN 7-121-01490-4:CNY58.00
    本书本三个部分,第一部分是测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、模拟测试等。
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正题名:超大规模集成电路测试     索取号:TN470.7/B984         预约/预借

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1 222484   202224841   自科库301/301自科库 36排4列2层/ [索取号:TN470.7/B984] 在馆    
2 222485   202224850   自科库301/301自科库 36排4列2层/ [索取号:TN470.7/B984] 在馆    
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